在桥式结构中的注意事项—探头的CMRR
电子元件2026-03-09
在对桥式结构中的高边(HS)MOSFET进行测试时,通常使用高压差分探头或差分探头(*4)来观测波形,但所用探头的共模抑制比(CMRR)在高频区域可能会降低,波形波动可能会增加。
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电子元件2026-03-09
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