锂电池常规结构解析指南

一、IIT结构

IIT（In-In-Tab）结构的卷芯，正负极耳均焊接在头部，极片入料时可以较好地控制极耳位置，通常极耳中心距和边距不良的情况较少。

附图1：IIT结构极片及极组示意图

附表1：IIT结构试卷问题及解决措施

二、MIT结构

MIT（Mid-In-Tab）结构的卷芯，正极耳焊接在极片中间，而负极耳焊接在头部，相比IIT结构，中心距和边距更难控制。

附图2：MIT结构极片及极组示意图

附表2：MIT结构试卷问题及解决措施

三、IMT结构

IMT（In-Mid-Tab）结构的卷芯，负极耳焊接在极片中间，而正极耳焊接在头部，与MIT结构类似。

附图3：IMT结构极片及极组示意图

附表3：IMT结构试卷问题及解决措施

四、MMT结构

MMT（Mid-Mid-Tab）结构的卷芯，正负极耳均焊接在极片中间，中心距和边距较难控制。

附图4：MMT结构极片及极组示意图

附表4：MMT结构试卷问题及解决措施

五、OOT结构

OOT（Out-Out-Tab）结构的卷芯，正负极耳均焊接在极片尾部，卷绕完成后才能确定极耳位置，与极片一致性关系较大，中心距和边距最难控制。

附图5：OOT结构极片及极组示意图

附表5：OOT结构试卷问题及解决措施

需要注意的是，卷芯尺寸、包覆情况等之间相互存在关联性，如MMT结构卷芯，正极片入料增加后，极耳中心距和正极耳边距都会减小，而负极片入料增加后，极耳边距会减小，而中心距会增大，因此，在调整极片尺寸或极耳位置时，切不可顾此失彼。

如此多的卷绕结构是基于电芯性能和制造工艺难易程度决定的，通过理论计算说明了极耳中置将会降低75%的集流体内阻，从而提高倍率性能。且有相关文献（高倍率锂电池极耳研究）研究了极耳焊接在不同位置的内阻和倍率性能，结果证实了极耳焊接越靠近极片中心，全电池内阻越小，倍率性能越好。

附图6：几种卷芯结构极耳焊接位置示意图

附图7：几种卷芯结构性能对比

由此可见，IIT结构的内阻最大，倍率性能差，MMT结构内阻最小，倍率性能最好，而MIT和ITM介于二者之间，并且负极耳中置的大倍率放电性能比正极耳中置更好。

总 结

1、极耳中置缩短了电子运动路径，可以有效降低全电池欧姆内阻，降低极化，减小温升，提高倍率性能，但增加了工艺复杂度，极耳中心距和边距控制难度增加。

2、IIT结构的电池和OOT结构内阻相差不大，但OOT结构极耳在卷芯外层，因此特别适合窄条形但中心距要求大的电芯，能大大降低正负极耳触碰短路的风险。