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PTC的失效模式分析

来源:网络  发布者:电工基础  发布时间:2026-03-22 11:54
PTC的失效模式分析

●衡量PTC热敏电阻器可靠性有两个主要指标:

A.耐电压能力----超过规定的电压可导致PTC热敏电阻器短路击穿,施加高电压可淘汰耐压低的产品,确保PTC热敏电阻器在最大工作电压(Vmax)以下是安全的;

B、耐电流能力----超过规定的电流或开关次数可导致PTC热敏电阻器呈现不可恢复的高阻态而失效,循环通断试验不能全部淘汰早期失效的产品。

●在规定的使用条件下,PTC失效后呈现高电阻态。长期(一般大于1000小时)施加在PTC热敏电阻器上的电压导致其常温电阻升高的幅度极小,居里温度超过200℃的PTC发热元件相对要明显。除PTC发热元件外,PTC失效的主要原因是由于开关操作中陶瓷体中心产生应力开裂。如下图,在PTC热敏电阻器动作动过程中,PTC瓷片内温度、电阻率、电场、和功率密度的分布不均匀导致中心应力大而分层裂开。

PTC的失效模式分析

PTC瓷片内温度、电阻率、电场、和功率密度沿片厚度方向的分布

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