堆叠式DRAM单元STI和阱区形成工艺介绍
电子元件2026-03-05
在下面的图中较为详细的显示了堆叠式DRAM单元STI和阱区形成工艺。下图(a)为AA层版图,虚线表示横截面位置。下图(b)为AA刻蚀后的横截面;下图(c)为形成STI后的横截面;下图(d)显示了P阱形成后的横截面。STI和P阱形成
接触器主触头接触电阻测量的方法
电子元件2026-03-05
低压接触器主触头的材质一般为银镍合金或者银氧化锡合金,银含量为百分之九十多,其余为镍或者氧化锡。银具有良好的导电性,有利于保证很低的接触电阻,防止触头过热,而镍或者氧化锡具有良好的耐电弧烧蚀能力
半导体行业之ICT技术的工艺流程
电子元件2026-03-05
CMOS集成电路芯片加工技术的几个主要发展发生在20世纪90年代。从CZ法单晶硅晶棒上切割下来的硅晶圆都含有微量的氧和碳,这些元素来自于坩埚材料。为了消除这些杂质并提高芯片的性能,先进的CMOS集成电路芯片使用了
铜排表面涂漆为何会提高铜排的载流能力呢?
电子元件2026-03-05
在上一篇文章:铜排的载流量如何确定?中,DIN43671-1975提供了涂漆铜排(Painted)和裸铜排(Bare)的载流量。
浅谈CP项目中的接触电阻测试技术
电子元件2026-03-05
本文准备谈谈CRES-Contact Resistance, 接触电的相关技术。 接触电阻的形式可分为三类:点接触、线接触和面接触。接触形式对收缩电阻Rs的影响主要表现在接触点的数目上。一般情况下,面接触的接触点数
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2023年AIoT产业发展的梳理及前瞻预判
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