动态测试证实了 SiC 开关频率的准确性(2)
时间:2025-12-19 02:32 来源:[db:来源] 作者:admin 点击:次
I d = C gd · (dV dg / dt) + C ds · (dV ds / dt) (9) 电容和跨导的非线性，分别是 V ds和 V gs的函数，是通过将 MATLAB 曲线拟合工具应用于每个器件数据表中显示的值而获得的。 实验测试 用于执行测试的设置如图 2 所示，其中红色虚线代表被测器件(裸芯片或直接键合铜)。在动态测试过程中，可以改变源极端子在PCB上的位置，选择不同的公共源极电感值(S 1、S 2、S 3或S 4)而不改变环路电感。相同的电路可用于静态测试。
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图 2：测试电路示意图
图 3：开启和关闭动态测试波形