在本系列的前几期中，我讨论了实现备选方案以及这些决策如何影响设备参数以及受设备参数影响。在这篇文章中，我将解释设备参数和系统因素如何影响可实现的精度。

要了解我们可以实现的测量精度，我们首先需要了解潜在误差的来源。以下是两种错误来源的列表——请注意，这不是一个详尽的列表，而是重点介绍了一些主要来源：

放大器相关的误差（噪声）源：

· 输入失调电压 (V OS )。

· V OS漂移。

· 共模抑制比 (CMRR)。

· 电源抑制比 (PSRR)。

· 增益误差。

· 增益误差漂移。

非放大器误差源：

· 印刷电路板 (PCB) 布局。

· 分流电阻容差和漂移。

· 增益设置无源器件容差、匹配和漂移。

最差情况下的精度是所有误差源 e 的简单线性求和，如公式 1 所示：

                      (1)

在统计上不可能同时使所有误差达到最大值，因此更可能的精度方程将是误差源的和方根，如方程 2 所示：

  (2)

首先，让我们考虑外部误差源。放大器看到的 V SENSE是输入引脚上的值，这与设计人员在电阻上测量时可能会遇到的不同。 (责任编辑：admin)