各个ST的SF流程的详细功能
T的SF流程
在Cert流程表中, 各个流程段所做的工作是不同的:
01-03 预处理(可能清除所有FW)
04-0F 伺服测试(包括扫描缺陷轨道)
10-1F 通道优化测试
20-2F 伺服参数调试
30-3E 缺陷扫描,分析,处理 (精确扫描坏扇区并作屏蔽)
40-4E 逻辑方式工作测试 (没有任何修复作用,仅作为出厂前的可*性测试, 只要在任何一个过程发现有错误就认为该硬盘不适宜出厂)
4F-50 失败或成功的最后处理
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