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在所有器件特性中，噪声可能是一个特别具有挑战性、难以掌握的设计课题。本文主要介绍时钟噪声对于高速DAC相位噪声的影响。 DAC相位噪声来源 对于高速DAC来说，相位噪声主要来自以下几个方面：时钟噪声、电源噪声，以及内部噪声与接口噪声。
图1：DAC相位噪声来源 (图片来源：ADI) 其中最重要的两个来源是时钟噪声与电源噪声。本文将主要介绍时钟噪声对于DAC相位噪声的影响。 深入了解ADI的DAC芯片产品 请点击这里 时钟相位噪声的产生 DAC时钟是DAC中产生相位噪声的首要原因。时钟决定何时发送下一样本，故相位(或时序)中的任何噪声都会直接影响输出的相位噪声。
图2：时钟与相位噪声的相关性(图片来源：ADI) 如上图所示，时钟对相位噪声的影响，可以视作各相继离散值与一个矩形函数相乘，其时序由时钟定义。
图 3 相位噪声卷积(图片来源于ADI) 如上图所示，在频域中，乘法转换为卷积运算。结果，期望的频谱被时钟相位噪声所破坏。 信号频率与相位噪声 信号频率与时钟频率之比，相对于载波的噪声放大或缩小，信号频率每降低一半，噪声改进6 dB。为了证明这一点，下图是不同频率(5GHz、1GHz、500MHz)下，混入一个带有轻度100kHz相位偏移的调制时钟信号(精密受控)，来模拟相位噪声，来看看信号频率与相位噪声的关系。
图4：带100kHz相位调制的时钟输出相位噪声 (图片来源：ADI) 我们可以看到，从5GHz时钟到500MHzDAC输出观测20dB降幅，从500MHz输出到1GHz输出观测到6dB增幅。 降低DAC相位噪声 选择一个性能良好的晶振，对于处理相位噪声可以达到事半功倍的效果。 在Digi-Key中文技术论坛中，汇集了广大电子圈工程师日常所需的技术资源库，里面也有不少与晶振选型和降低DAC相位噪声相关的帖子，详情可以访问——电子元器件选型基础-晶振。 晶振可以分为有源晶振和无源晶振两种，下表对两种晶振进行了比较： 无源晶振有源晶振 引脚一般2个引脚 (可能会看见4个引脚的无源晶振封装， 但是一般只用到4个引脚中的2个)一般4个及4个引脚以上 是否可以自己振动自身无法振荡 需要外接起振电路自身可以起振 包含起振电路 电压电压可变，由外接电路决定一般电压固定，信号质量好，比较稳定 实物图无源晶振
有源晶振
原理图
对于不同类型晶振特点和典型应用的比较，下表中做了详细地分析： 晶振类型特点应用 标准晶体振荡器(XO)最基本的一种是晶体振荡器应用广泛 温度补偿振荡器(TCXO)进行温度补偿，使得输出频率更加稳定适用于环境温度变化较大的场合，动态环境的应用。如蜂窝电话，智能手机等 压控振荡器(VCXO)输出频率由输入电压控制常见于锁相环，混频器，讯号产生器等 恒温晶体振荡器(OCXO)使晶体振荡器的温度保持恒定，从而使得输出频率更加稳定常见于对于频率稳定性要求比较高的场合 想了解如何通过Digi-Key网站，快速进行低相位噪声晶振的选型，可以参考下面这篇文章——如何选择低相位噪声晶振? 本文小结 综上所述，了解噪声发生的原因，我们才能对症下药。时钟噪声对于DAC相位噪声的影响很大，因此选择一个高精度的晶振可能是最简单可行的方案。 |
